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白内障的检查

检查项目:眼科检查、眼底镜、裂隙灯、

  一般检查

  (一) 视力:视力检查实际上是中心视力检查,即了解视网膜黄斑中心凹及其相应系统功能。由于晶状体是仅次于角膜的重要屈光介质,晶状体病变会直接影响视网膜成像的质与量。现代眼科由于手术技巧与仪器的进展,临床视力检查结果往往作为晶状体病手术的重要参考。如世界卫生组织从群体防治的角度考虑将晶状体混浊并矫正视力在0.5以下才纳入白内障诊断范围。

  (二) 散瞳检查:晶状体位于虹膜后,暴露于瞳孔区的仅仅晶状体中央部分,因此小瞳孔不能了解晶状体的全貌,必须进行散瞳检查(对老年人有青光眼倾向者应在散瞳前后测量眼压并做相应处理)。

  (三) 斜照法:聚焦手电筒成45度投照于晶状体,于正面观察晶状体是否有混浊,混浊的形态和部位。通过虹膜与晶状体周边表面的投影宽窄可以了解晶状体周边表面于虹膜的间隙是否变宽,从而判断是否存在晶状体半脱位。在无晶状体眼和脱位范围较大的病人可以看到虹膜震颤。晶状体明显混浊至不透明时斜照的虹膜在晶状体表面的投射宽窄说明晶状体前皮质混浊的程度。

  (四) 澈照法:直接检眼镜距离角膜约10cm将屈光度置于+8D-+10D,正常可见瞳孔内呈红色均匀一致的反光,若晶状体混浊时可见红光背景有暗影,其形态和晶状体混浊形态一致。用澈照法可以鉴别晶状体硬化与混浊,晶状体硬化没有明确的暗影。在晶状体脱位时可见月牙型暗影甚至可以看到眼底。

  裂隙灯检查:

  (一)概述:裂隙灯检查法是应用裂隙灯角膜显微镜以投射光线的不同角度和宽窄,焦点或弥散方法经角膜显微镜观察晶状体的光学特性,从而对晶状体的位置,病变情况作出判断。一般检查越是近轴位的部位投射角度越小如15-30度,周边部则可达45-60度。

  (二)晶状体裂隙灯检查常用方法

  1.弥散照明法:将裂隙灯的光源开大呈弥漫光斑投向角膜晶状体,通过透明的角膜可以看到晶状体的全貌。检查晶状体有无移位,有无明确的斑点状或楔形混浊,晶状体表面是否光洁一致等。但不能明确晶状体各层较细微的改变。

  2.直接焦点照明法:将投射光线的焦点和角膜显微镜的焦点调至完全一至,这是检查晶状体的重要方法,其中可分宽光带照射和窄光带照射。

  (1)宽光带照射:将照射光线呈较宽的光带(如1-2mm),主要用来观察晶状体周边前表面与瞳孔位置的关系。其间隙是否有不同,相应的晶状体前面的虹膜有无颤动。观察晶状体表面及前皮质的光学特性。

  (2)窄光带照射:将光带调的很窄(如0.4mm),此时晶状体各层的光反射带上的细小改变就可以反映出来,病变定位较宽光带明确。因为晶状体厚4-5mm,所以检查时必须焦点从晶状体前囊开始顺序向后至后囊逐层观察。并且从颞侧至鼻侧连续观察各光学切面才能对检查的晶状体有一个全面的印象。在实际检查中往往宽窄光带结合可以得到一个明确的晶状体病变位置、形态甚至性质。

  3.间接焦点斜照法:将焦点照射光线放在需要观察部位的侧方,利用其间接光反射可以看到并非完混浊但折光有改变的病变,如水隙、空泡及轻微的混浊。

  4.后映光照射法:将照射光线通过被观察部位的后方,通过其后的反射光线来观察较细微的直接焦点照射法不易发现的改变,如晶状体后囊下的混浊、后发障、前囊膜色素、微小混浊等。

  5. 镜面反光照射法:将晶状体囊膜作为镜面反光区,当照射光投射角等于反射角时可看到晶状体囊的镜面反光。晶状体囊膜组织不均匀则镜面反光出现相应的反射与折射。如正常晶状体的前囊可看到鲨鱼皮样反光。


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